全譜ICP質譜(全譜電感耦合等離子體質譜)介紹

　　全譜ICP質譜(通常指飛行時間電感耦合等離子體質譜，TOF-ICP-MS)是一種基于飛行時間質量分析器的高通量元素分析技術，能夠實現全質量范圍內同位素的瞬時同步檢測。相比傳統的四極桿ICP-MS，全譜技術在多元素快速分析、瞬態信號處理及同位素比值測定中展現顯著優勢。
 

　　?一、工作原理
 

　　?1、離子化與傳輸?
 

　　樣品經霧化器進入高溫等離子體(~8000K)，離子化后通過接口錐(Sampler/Skimmer Cone)提取至真空系統。
 

　　2?、質量分離與檢測?
 

　　?飛行時間質量分析器(TOF)?：離子經加速電場后以相同動能進入無場漂移管，質量小的離子飛行時間短，質量大的飛行時間長，通過檢測飛行時間差異實現質量分離。
 

　　?全譜同步采集：單次脈沖(μs級)即可捕獲全質量范圍(如Li~U)的離子信號，避免四極桿掃描的時間延遲。
 

　　3、?數據處理?
 

　　通過高速數字轉換器(ADC)記錄所有離子到達時間，結合校準曲線將時間轉換為質荷比(m/z)，生成完整質譜圖。
 

　　?二、核心性能優勢
  

 

　　?三、典型應用場景
 

　　?1、多元素快速分析?
 

　　?環境監測：水體、土壤中痕量重金屬(As、Cd、Hg等)同步檢測，單次進樣完成30+元素分析。
 

　　?生物醫學：血清、組織中必需/毒性元素(Fe、Zn、Pb)高通量篩查。
 

　　2?、瞬態信號解析?
 

　　?激光燒蝕(LA)?：礦物微區元素分布成像，空間分辨率<10μm。
 

　　?單顆粒ICP-MS(spICP-MS)?：納米顆粒(Ag、TiO?)數量濃度與粒徑分布測定。
 

　　3、?同位素比值分析?
 

　　?地質年代學：U-Pb、Sr-Nd同位素比值測定，精度媲美多接收器ICP-MS(MC-ICP-MS)。
 

　　?食品安全溯源：鉛、鍶同位素指紋追蹤葡萄酒、咖啡產地。
 

　　?四、儀器結構組成